●パッケージ基板、フラットパネルディスプレイ、半導体、ウェハ検査
 その他、あらゆるアプリケーションに利用可能

For testing of IC substrate,Flat Panel Display, Wafer

●120μmピッチをチューブ付き両端可動コンタクトプローブ構造で実現
●低バネ圧設計により、パターン上の打痕傷を軽減
●メインテナンス性を重視したプローブ交換方式を採用

The smallest double ended type contact probe in the world.
Guarantee very stable and low contact resistance.
Low and controlled spring force can create damage free environment to the PCB during testing.
Contact probes can be removed one by one, enabling the user to perform a maintenance swiftly.

 
 

   

 

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